Livro Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: Third Edition
This text provides students as well as practitioners with a comprehensive introduction to the field of scanning electron microscopy (SEM) and X-ray microanalysis. The authors emphasize the practical aspects of the techniques described.
Topics discussed include user-controlled functions of scanning electron microscopes and x-ray spectrometers and the use of x-rays for qualitative and quantitative analysis. Separate chapters cover SEM sample preparation methods for hard materials, polymers, and biological specimens.
In addition techniques for the elimination of charging in non-conducting specimens are detailed.
Ficha Técnica do Livro
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| Autor(es) | |
| Editora | Springer |
| Idioma | Inglês |
| ISBN | 0306472929 9780306472923 |
| Formato | Capa dura |
| Páginas | 690 |
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